SKC

邮箱

OA

科研系统

集成电路中心参与推进RFID标签性能评价体系建设

发布时间：2015-08-18
       日前，由中国质量认证中心与集成电路中心联合制定的《超高频射频识别标签评价技术规范》通过了专家评审，标志着双方共同推进建设的RFID标签性能评价体系已完成，并可正式对外提供认证服务。 这将有助于应对当前市场上标签供应商众多但标签性能应用效果层次不齐的突出问题，将为应用单位筛选合适的标签产品提供权威的依据。 （集成电路中心）